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納芯微發(fā)布首款1200V SiC MOSFET,為高效、可靠能源變換再添助力!

納芯微 ? 來源:納芯微 ? 作者:納芯微 ? 2024-10-29 13:54 ? 次閱讀
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納芯微推出1200V首款SiCMOSFET NPC060N120A系列產(chǎn)品,該產(chǎn)品RDSon為60mΩ,具有通孔式TO-247-4L與表面貼裝TO-263-7L兩種封裝形式,可提供車規(guī)與工規(guī)兩種等級。

納芯微的碳化硅MOSFET具有卓越的RDSon溫度穩(wěn)定性、門極驅(qū)動電壓覆蓋度更寬、具備高可靠性,適用于電動汽車(EV) OBC/DCDC、熱管理系統(tǒng)、光伏和儲能系統(tǒng)(ESS)以及不間斷電源(UPS)等領(lǐng)域。

NPC060N120A產(chǎn)品特性

- 更寬的柵極驅(qū)動電壓范圍(-8~22V)

支持+15V,+18V驅(qū)動模式(可實現(xiàn)IGBT兼容:+15 V)

+18V模式下,RDSon可降低20%

- 更好的RDSon溫度穩(wěn)定性

- 出色的閾值電壓一致性

Vth在25°C~175°C的范圍保持在2.0V~2.8V之間

- 體二極管正向壓降非常低且穩(wěn)健性高

- 100%的雪崩測試,從而提高整體的可靠性,抗沖擊能力強(qiáng)

此外,功率產(chǎn)品開發(fā)中可靠性驗證與質(zhì)量控制是納芯微非常重視環(huán)節(jié)之一。為了提供給客戶更可靠的碳化硅MOSFET產(chǎn)品,在碳化硅芯片生產(chǎn)過程中施行嚴(yán)格的質(zhì)量控制,所有碳化硅產(chǎn)品做到100% 靜態(tài)電參數(shù)測試,100%抗雪崩能力測試。此外,會執(zhí)行比AEC-Q101更加嚴(yán)格的測試條件來執(zhí)行產(chǎn)品可靠性驗證,如下圖:

wKgZoWcgeJuARJ02AAHkGkz1FV4679.png圖源:納芯微

以執(zhí)行較為嚴(yán)苛的HV-H3TRB為例,在可靠性1000小時測試后,該款產(chǎn)品仍具有比較優(yōu)異的穩(wěn)定性。

wKgaoWcgeJuABpLlAAES8xQVmGU818.png圖源:納芯微


NPC060N120A產(chǎn)品選型表

wKgZoWcgeJyAN1fUAAG-ujrrzME947.png圖源:納芯微

納芯微SiCMOSFET命名規(guī)則

wKgaoWcgeJyAdmtFAADtIY2IHM8257.png圖源:納芯微

未來,納芯微將持續(xù)擴(kuò)大產(chǎn)品陣容,推出更多規(guī)格產(chǎn)品供客戶選擇。

審核編輯 黃宇

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