亚洲av成人精品日韩一区,97久久久精品综合88久久,玩弄japan白嫩少妇hd,亚洲av片不卡无码久久,玩弄人妻少妇500系列

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

瞻芯電子參與編制SiC MOSFET可靠性和動態(tài)開關測試標準

瞻芯電子 ? 來源:瞻芯電子 ? 2024-11-29 13:47 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

日前,在第十屆國際第三代半導體論壇(IFWS)上,第三代半導體產業(yè)技術創(chuàng)新戰(zhàn)略聯盟(CASA)發(fā)布了9項碳化硅 (SiC) MOSFET測試與可靠性標準,旨在為SiC MOSFET功率器件提供一套科學、合理的測試與評估方法,支撐產品性能提升,推動產業(yè)高質量發(fā)展。

碳化硅 (SiC) MOSFET因其高耐壓、高頻開關、耐高溫、低通態(tài)電阻和開關損耗等特點,廣泛應用于高頻、高壓功率系統(tǒng),如新能源汽車與充電樁、光伏與儲能、航天、航空、石油勘探、核能、通信等領域,因此在髙溫、高濕等極端環(huán)境下測試驗證SiC MOSFET的可靠性顯得至關重要。瞻芯電子長期致力于提供高品質的碳化硅(SiC)功率器件產品,尤其重視對SiC器件可靠性的測試和研究,參與編制了其中3項可靠性測試標準:《SiC MOSFETs高溫柵偏試驗方法》(HTGB)、《SiC MOSFETs高溫反偏試驗方法》(HTRB)和《SiC MOSFETs高壓高溫高濕反偏試驗方法》(HV-H3TRB)。

除了可靠性之外,功率器件開關動態(tài)測試是測評SiC MOSFETs產品損耗的重要方法。為了讓測試足夠精準和穩(wěn)定,需要定量的技術規(guī)范和測試方法。瞻芯電子結合長期的測試開發(fā)經驗,參與編制了《SiC MOSFETs動態(tài)開關損耗測試方法》標準,以助推行業(yè)形成廣泛的技術共識,實現有效的溯源和評比。

瞻芯電子是中國第一家自主開發(fā)并掌握6英寸碳化硅(SiC)MOSFET產品以及工藝平臺的公司,自2020年發(fā)布第一代SiC MOSFET產品以來,持續(xù)迭代升級到第三代SiC MOSFET工藝平臺,其產品憑借優(yōu)秀的性能,廣泛應用于新能源汽車、光伏儲能、充電樁和工業(yè)電源等領域,累計交付近1400萬顆SiC MOSFET產品,其中逾400萬顆“上車”應用,產品的長期可靠性得到市場的有效驗證。瞻芯電子將持續(xù)致力于對SiCMOSFET失效機理、早期失效篩選、長期可靠性的深入研究,繼續(xù)完善多維度工況下的產品壽命預測模型,保障客戶應用系統(tǒng)的長期安全和穩(wěn)定。

4項測試方法簡介

《SiC MOSFETs器件開關動態(tài)測試方法》

測試系統(tǒng)應由電壓探頭、電流探頭、示波器上位機構成,如圖1所示。電壓探頭用于檢測被測器件的漏–源電壓、柵–源電壓,電流探頭用于檢測被測器件的漏極電流。示波器用于采集電壓和電流探頭獲取的測試數據,上位機用于系統(tǒng)的運行控制和數據處理。

3179a740-ae14-11ef-93f3-92fbcf53809c.png

圖1 測試系統(tǒng)構成

《SiC MOSFETs高溫柵偏試驗方法》(HTGB)

長時間的電氣應力(器件偏置電壓)和熱應力(高溫環(huán)境)會對SiC MOSFET產生綜合影響。通過提高偏置電壓、環(huán)境溫度的應力條件,以模擬加速工作狀態(tài),從而在較短的時間內評估器件在正常使用條件下的可靠性和壽命,用于器件的質量驗證和柵極電介質的可靠性監(jiān)控(老化篩選)。

《SiC MOSFETs高溫反偏試驗方法》(HTRB)

該測試驗證SiC MOSFET芯片鈍化層結構或鈍化拓撲中的薄弱點,以及芯片邊緣密封隨時間的變化。測試的重點是與生產有關的離子污染物,這些污染物會在溫度和電場的影響下遷移,從而增加表面電荷,這可能會導致漏電流增加。同時SiC MOSFET器件封裝過程和材料的熱膨脹系數也會對鈍化層完整性產生重大影響,從而降低對外部污染物的防護能力。

《SiC MOSFETs高壓高溫高濕反偏試驗方法》(HV-H3TRB)

該測試用于SiC MOSFET分立器件或功率模塊,重點針對結構中的薄弱點。非氣密封裝的功率器件隨著時間的推移,濕氣會進入鈍化層。在濕度的影響下,芯片鈍化層結構或鈍化拓撲結構以及芯片邊緣密封的薄弱點會受到不同程度的影響。

污染物也可以通過濕度傳輸到關鍵區(qū)域,重點是與生產有關的離子污染物,它們會在溫度和電場的影響下遷移,從而增加表面電荷,并伴隨封裝熱機械應力的作用,可能會導致器件漏電流增大。封裝工藝和材料的熱膨脹系數(CTE)也會對鈍化完整性產生重大影響,從而降低對外部污染物的防護能力。

關于瞻芯電子

上海瞻芯電子科技股份有限公司(簡稱“瞻芯電子”)是一家聚焦于碳化硅(SiC)半導體領域的高科技芯片公司,2017年成立于上海臨港。公司致力于開發(fā)碳化硅功率半導體和芯片產品,并圍繞碳化硅(SiC)應用,為客戶提供一站式解決方案。

瞻芯電子是中國第一家自主開發(fā)并掌握6英寸碳化硅(SiC)MOSFET產品以及工藝平臺的公司,擁有一座車規(guī)級碳化硅(SiC)晶圓廠,標志著瞻芯電子進入中國領先的碳化硅(SiC)功率半導體IDM公司行列。 瞻芯電子將持續(xù)創(chuàng)新,放眼世界,致力于打造中國領先、國際一流的碳化硅(SiC)功率半導體和芯片解決方案提供商。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • MOSFET
    +關注

    關注

    150

    文章

    8600

    瀏覽量

    220395
  • 半導體
    +關注

    關注

    335

    文章

    28901

    瀏覽量

    237647
  • SiC
    SiC
    +關注

    關注

    31

    文章

    3223

    瀏覽量

    65208
  • 瞻芯電子
    +關注

    關注

    0

    文章

    64

    瀏覽量

    672

原文標題:瞻芯電子參與編制SiC MOSFET可靠性和動態(tài)開關測試標準

文章出處:【微信號:瞻芯電子,微信公眾號:瞻芯電子】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    電子第3代1200V 35mΩ SiC MOSFET量產交付應用

    近期,中國領先的碳化硅(SiC)功率器件與IC解決方案供應商——電子開發(fā)的首批第3代1200V SiC 35mΩ
    的頭像 發(fā)表于 07-16 14:08 ?87次閱讀
    <b class='flag-5'>瞻</b><b class='flag-5'>芯</b><b class='flag-5'>電子</b>第3代1200V 35mΩ <b class='flag-5'>SiC</b> <b class='flag-5'>MOSFET</b>量產交付應用

    靈動微電子助力汽車芯片可靠性提升

    近日,由中國電子技術標準化研究院牽頭編制的《汽車用集成電路 應力測試規(guī)范》團體標準正式發(fā)布。該標準旨在為汽車集成電路的鑒定檢驗提供統(tǒng)一、規(guī)范
    的頭像 發(fā)表于 05-28 09:25 ?448次閱讀

    提供半導體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    無需封裝:熱阻低,允許施加更高溫度和大電流密度而不引入新失效機理;實時反饋:與工藝開發(fā)流程深度融合,工藝調整后可立即通過測試反饋評估可靠性影響;行業(yè)標準化:主流廠商均發(fā)布WLR技術報告,推動其成為工藝
    發(fā)表于 05-07 20:34

    國產SiC碳化硅MOSFET廠商柵氧可靠性危機與破局分析

    國產SiC碳化硅MOSFET在充電樁和車載OBC(車載充電機)等領域出現柵氧可靠性問題后,行業(yè)面臨嚴峻挑戰(zhàn)。面對國產SiC碳化硅MOSFET
    的頭像 發(fā)表于 04-20 13:33 ?353次閱讀
    國產<b class='flag-5'>SiC</b>碳化硅<b class='flag-5'>MOSFET</b>廠商柵氧<b class='flag-5'>可靠性</b>危機與破局分析

    麥科信光隔離探頭在碳化硅(SiCMOSFET動態(tài)測試中的應用

    測試結果的準確。 采用麥科信光隔離探頭MOIP200P的SiC MOSFET動態(tài)測試結果 客
    發(fā)表于 04-08 16:00

    國產SiC碳化硅MOSFET廠商絕口不提柵氧可靠性的根本原因是什么

    兩方面展開分析: 一、部分國產SiC碳化硅MOSFET廠商避談柵氧可靠性的根本原因 技術矛盾:電性能與可靠性的權衡 碳化硅MOSFET設計中
    的頭像 發(fā)表于 04-07 10:38 ?328次閱讀

    碳化硅(SiCMOSFET的柵氧可靠性成為電力電子客戶應用中的核心關切點

    為什么現在越來越多的客戶一看到SiC碳化硅MOSFET功率器件供應商聊的第一個話題就是碳化硅MOSFET的柵氧可靠性,碳化硅(SiC
    的頭像 發(fā)表于 04-03 07:56 ?386次閱讀
    碳化硅(<b class='flag-5'>SiC</b>)<b class='flag-5'>MOSFET</b>的柵氧<b class='flag-5'>可靠性</b>成為電力<b class='flag-5'>電子</b>客戶應用中的核心關切點

    SiC MOSFET動態(tài)特性

    本文詳細介紹了SiC MOSFET動態(tài)特性。包括閾值電壓特性、開通和關斷特性以及體二極管的反向恢復特性。此外,還應注意測試波形的準確。
    的頭像 發(fā)表于 03-26 16:52 ?924次閱讀
    <b class='flag-5'>SiC</b> <b class='flag-5'>MOSFET</b>的<b class='flag-5'>動態(tài)</b>特性

    如何測試SiC MOSFET柵氧可靠性

    MOSFET的柵氧可靠性問題一直是制約其廣泛應用的關鍵因素之一。柵氧層的可靠性直接影響到器件的長期穩(wěn)定性和使用壽命,因此,如何有效驗證SiC MO
    的頭像 發(fā)表于 03-24 17:43 ?1164次閱讀
    如何<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>SiC</b> <b class='flag-5'>MOSFET</b>柵氧<b class='flag-5'>可靠性</b>

    電子推出2000V SiC 4相升壓功率模塊

    日前,電子正式推出3B封裝的2000V 碳化硅(SiC) 4相升壓功率模塊產品(IV3B20023BA2),為光伏等領域提供了高電壓、高功率密度的解決方案。該產品已通過工業(yè)級
    的頭像 發(fā)表于 03-01 09:27 ?779次閱讀
    <b class='flag-5'>瞻</b><b class='flag-5'>芯</b><b class='flag-5'>電子</b>推出2000V <b class='flag-5'>SiC</b> 4相升壓功率模塊

    什么是MOSFET柵極氧化層?如何測試SiC碳化硅MOSFET的柵氧可靠性?

    具有決定性的影響。因此,深入理解柵極氧化層的特性,并掌握其可靠性測試方法,對于推動碳化硅 MOSFET的應用和發(fā)展具有重要意義。今天的“SiC科普小課堂”將聚焦于“柵極氧化層”這一新話
    發(fā)表于 01-04 12:37

    電子推出車規(guī)級1200V 60A SiC 肖特基二極管(SBD)產品,助力高效大功率應用

    為了滿足高效、大功率變換系統(tǒng)應用需要,電子開發(fā)了4款1200V 60A SiC肖特基二極管(SBD)產品,其中TO247-2封裝器件產品IV2D12060T2Z滿足車規(guī)級
    的頭像 發(fā)表于 12-02 09:07 ?1491次閱讀
    <b class='flag-5'>瞻</b><b class='flag-5'>芯</b><b class='flag-5'>電子</b>推出車規(guī)級1200V 60A <b class='flag-5'>SiC</b> 肖特基二極管(SBD)產品,助力高效大功率應用

    電子推出采用TC3Pak封裝的1200V SiC MOSFET

    為了滿足高密度的功率變換的需求,電子推出2款新型TC3Pak(Topside Cooling D3Pak)頂部散熱型、表面貼封裝1200V碳化硅(SiC
    的頭像 發(fā)表于 11-27 14:58 ?990次閱讀
    <b class='flag-5'>瞻</b><b class='flag-5'>芯</b><b class='flag-5'>電子</b>推出采用TC3Pak封裝的1200V <b class='flag-5'>SiC</b> <b class='flag-5'>MOSFET</b>

    重磅 9項 SiC MOSFET測試可靠性標準發(fā)布

    SiC MOSFET測試可靠性標準。這一系列標準的發(fā)布,旨在為
    的頭像 發(fā)表于 11-20 10:56 ?1230次閱讀
    重磅 9項 <b class='flag-5'>SiC</b> <b class='flag-5'>MOSFET</b><b class='flag-5'>測試</b>與<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>標準</b>發(fā)布

    電子交付碳化硅(SiC)MOSFET逾千萬顆 產品長期可靠性得到驗證

    ,標志著產品的長期可靠性得到了市場驗證。 SiC MOSFET作為功率變換系統(tǒng)的核心元器件,其性能表現影響應用系統(tǒng)的效率表現。而產品的長期可靠性則更為關鍵,它決定了應用系統(tǒng)的安全和穩(wěn)定
    的頭像 發(fā)表于 09-27 10:43 ?630次閱讀
    <b class='flag-5'>瞻</b><b class='flag-5'>芯</b><b class='flag-5'>電子</b>交付碳化硅(<b class='flag-5'>SiC</b>)<b class='flag-5'>MOSFET</b>逾千萬顆 產品長期<b class='flag-5'>可靠性</b>得到驗證