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標簽 > ic測試
IC測試就是用相關的電子儀器(如萬用表、示波器、直流電源,ATE 等)將IC所具備的電路功能、電氣性能參數(shù)測試出來。測試的項目一般有:直流參數(shù)(電壓、電流)、交流參數(shù)(頻率)、功能測試等。
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IC測試,即集成電路測試,是集成電路設計和制造過程中的一個重要環(huán)節(jié)。它主要通過對集成電路的性能、功能和可靠性進行測試,以確保集成電路在實際應用中能夠滿足...
Mentor推出了其嵌入式壓縮和自動測試向量生成(ATPG)技術,與Mentor公司2009年8月收購的LogicVision公司的BIST技術結合,組...
2011-03-08 標簽:IC測試 2922 0
當裸片尺寸無法繼續(xù)擴大時,開發(fā)者開始考慮投入對 3D 堆疊裸片方法的研究??紤]用于 3D 封裝的高端器件已經(jīng)將當前的可測試性設計 (DFT) 解決方案推...
ic測試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下能完全實現(xiàn)設計規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標。用來完成這一功能的自動測試設備是由計算機控制的。
IC測試原理和設備教程在內(nèi)容、目的和關注點上存在顯著的區(qū)別。 IC測試原理 內(nèi)容 : IC測試原理主要探討的是對集成電路(Integrated Circ...
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