隨著氮化鎵GaN技術在PD快充領域的普及，充電器正朝著更小巧、更高效的方向發(fā)展。不過工程師在設計GaN充電器時，卻面臨一些棘手挑戰(zhàn)：在高頻狀態(tài)下，電磁干擾EMI頻繁發(fā)生，這導致設備兼容性下降；器件間協(xié)同性也不夠充足，進而引發(fā)了效率波動及穩(wěn)定性的風險。電路之中的這些問題猶如“暗礁”，稍微一不小心，便會對產品性能以及用戶體驗造成影響。

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GaN器件的高開關速度在縮小磁性元件體積的同時，也放大了寄生參數的負面影響。一是寄生電感振蕩，PCB布局中的線路電感與MOS管的輸出電容形成LC諧振，在100kHz以上頻段產生＞20dBμV/m的輻射噪聲，導致EMI測試超標。二是驅動信號失真，柵極寄生電容與驅動電阻的RC延遲，這種情況可能使開關波形出現(xiàn)振鈴，進而增加器件損耗，并降低可靠性。

解決寄生電感振蕩和驅動信號失真的問題，其關鍵需要在器件選型與電路設計同時進行：

1.寄生電感振蕩：切斷“振蕩源頭”

器件選型時，選低寄生電感封裝，如PDFN5X6封裝的HKTG48N10，通過裸露漏極焊盤設計，降低LC諧振強度；在電路設計上，縮短功率回路走線，優(yōu)化PCB布局，從源頭削弱振蕩能量，再加吸收電路，可快速吸收電壓尖峰。

2.驅動信號失真：精準控制“信號延遲”

器件選型時，選低柵極電荷器件，如HKTQ80N03的電荷僅38nC，這樣能減少驅動電阻負擔，讓開關延遲時間更穩(wěn)定；電路設計上，加上RC阻尼網絡，用來濾除高頻毛刺，把驅動信號振鈴壓降至5%以內，從而避免器件誤觸發(fā)。根據Ciss參數（如≤4000pF）來選擇驅動芯片，以確保充電電流足夠，可避免信號上升、下降沿拖尾。

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就像“減少齒輪摩擦”那樣，選對低寄生參數的器件，如HKTG48N10、HKTQ80N03，搭配上簡潔的外圍電路吸收網絡以及阻尼電阻，如此一來，就能使高頻開關過程更“順暢”，既降低EMI噪聲，又減少損耗，讓GaN充電器高效又穩(wěn)定。

MOSFET的高頻“默契”考驗：

在GaN充電器的高頻開關場景中，MOS管的寄生電容與電感如同看不見的“耦合器”。如若參數匹配不當，很容易引發(fā)振蕩及損耗。以具有低寄生電容的MOSFET為例，它能夠減少高頻開關時的能量“回彈”從而降低損耗，這樣就確保電流切換更為精準，恰如精密鐘表的齒輪，每一次轉動皆需嚴絲合縫。

當下，半導體行業(yè)對GaN配套分立器件的研發(fā)愈發(fā)深入。從材料優(yōu)化到封裝創(chuàng)新，旨在降低高頻下的寄生參數所帶來的影響，提升器件在電路中的協(xié)同。這些努力正推動GaN充電器向更高頻率、更低損耗的方向不斷邁進。在分立器件制造領域，合科泰等廠商專注聚焦于高頻場景需求，不斷地對產品性能進行優(yōu)化。通過精細的參數設計以及工藝把控，助力工程師應對GaN快充充電器的高頻挑戰(zhàn)。

審核編輯 黃宇