輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試是電源模塊測(cè)試項(xiàng)目之一，其目的是為了驗(yàn)證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時(shí)，待測(cè)品能夠自我保護(hù)，而且不會(huì)被損壞。用納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊輸入電壓緩慢變動(dòng)，解決傳統(tǒng)測(cè)試程序繁瑣、速度慢、效率低難點(diǎn)。

電源模塊輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試方法

測(cè)試設(shè)備：交流電源、電子負(fù)載、功率表

測(cè)試條件：依SPEC.要求設(shè)定輸入電壓為90Vac或180Vac，輸出負(fù)載Max. Load。

測(cè)試方法：

1.將待測(cè)品與輸入電源和電子負(fù)載連接好，且設(shè)定好輸入電壓和輸出負(fù)載

2.逐步調(diào)降輸入電壓，每次 3 Vac/每分鐘

3.記錄電壓值(包括輸入電壓和輸出電壓)，直到待測(cè)品自動(dòng)當(dāng)機(jī)為止

4.設(shè)定好輸入電壓為0Vac，逐步調(diào)升輸入電壓，每次 3 Vac/每分鐘，直到待測(cè)品輸出電壓達(dá)到正常規(guī)格為止，記錄電壓?jiǎn)?dòng)時(shí)輸出電壓和輸入電壓值

在測(cè)試時(shí)需要注意待測(cè)品在正常操作情況下不應(yīng)有任何不穩(wěn)動(dòng)作發(fā)生，以及失效情形。而且產(chǎn)品當(dāng)機(jī)和啟動(dòng)時(shí)的輸入電壓要小于輸入電壓范圍下限值。

ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)

隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，儀器測(cè)試行業(yè)也迎來了巨大的改變，由之前的手動(dòng)測(cè)試發(fā)展到現(xiàn)在的自動(dòng)化測(cè)試，簡(jiǎn)化了測(cè)試程序，提高了測(cè)試效率。納米軟件就是一家專注于電源模塊自動(dòng)化測(cè)試軟件開發(fā)的公司，致力于幫助實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試，提供整體軟硬件解決方案，解決測(cè)試痛點(diǎn)，保證電源模塊的質(zhì)量和可靠性，提升企業(yè)的核心競(jìng)爭(zhēng)力。

審核編輯：湯梓紅