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詳解GaN和SiC器件測(cè)試的理想探頭

美國(guó)力科TeledyneLeCroy ? 來(lái)源:美國(guó)力科TeledyneLeCroy ? 作者:TeledyneLecroy ? 2022-11-03 17:47 ? 次閱讀
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DL-ISO高壓光隔離探頭

DL-ISO 高壓光隔離探頭具有 1 GHz 帶寬、2500 V 差分輸入范圍和 60 kV 共模電壓范圍,提供非常高的測(cè)量精度和豐富的連接方式,是GaN 和 SiC 器件測(cè)試的理想探頭。

GaN 和 SiC 測(cè)試的理想探頭

1GHz帶寬的DL-ISO高壓光學(xué)隔離探頭是表征氮化鎵(GaN)FET/MOSFET和碳化硅(SiC)IGBT以及其他寬禁帶(WBG)功率半導(dǎo)體器件的理想選擇。

它具有高共模抑制比,這使得它非常適合于上管的浮地柵極驅(qū)動(dòng)測(cè)量,包括觀察米勒效應(yīng)。

靈活的探頭前端

Teledyne LeCroy DL-ISO探頭前端非常靈活,可以彎曲到狹窄的空間,連接簡(jiǎn)單。

在確定是要測(cè)量開(kāi)關(guān)損耗、傳導(dǎo)損耗,還是只想利用高共模抑制比進(jìn)行上管柵極驅(qū)動(dòng)或柵極源極測(cè)量時(shí),選擇正確的探針前端非常重要。





審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:探頭選擇 | 視頻詳解DL-ISO高壓光隔離探頭

文章出處:【微信號(hào):美國(guó)力科TeledyneLeCroy,微信公眾號(hào):美國(guó)力科TeledyneLeCroy】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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