完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>
標簽 > tem
文章:96個 瀏覽:10793次 帖子:1個
什么是透射電子顯微鏡?透射電子顯微鏡(TEM)的原理根基在于電子與物質(zhì)的相互作用。電子槍發(fā)射出的電子束,經(jīng)由電磁透鏡系統(tǒng)聚焦與加速,達到高能量水平(80...
金屬材料作為現(xiàn)代工業(yè)的基石,其性能的優(yōu)化與改進對于推動科技發(fā)展和工業(yè)進步有著深遠影響。而TEM能夠清晰地洞察材料的微觀結(jié)構(gòu)特征,從而揭示性能的本質(zhì),為開...
透射電子顯微鏡(TEM)與聚焦離子束技術(shù)(FIB)在材料分析中的應用
什么是透射電子顯微鏡(TEM)透射電子顯微鏡(TEM)是一種功能強大的分析工具,可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的...
FIB 技術(shù)在電池材料研究中的相關(guān)應用
橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束(FIB)技術(shù)對電池材料進行精確切割,能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部...
在材料科學的微觀研究領(lǐng)域,電子顯微鏡扮演著至關(guān)重要的角色。它能夠深入揭示材料樣品內(nèi)部的精細結(jié)構(gòu),為科研人員分析組織形貌和結(jié)構(gòu)特征提供了強大的技術(shù)支持。掃...
近年來,聚焦離子束(FocusedIonBeam,F(xiàn)IB)技術(shù)作為一種新型的微分析和微加工技術(shù),在元器件可靠性領(lǐng)域得到了廣泛應用,為提高元器件的可靠性提...
什么是再結(jié)晶過程再結(jié)晶是一種重要的材料科學現(xiàn)象,它涉及到材料在經(jīng)歷塑性變形后的微觀結(jié)構(gòu)恢復過程。這一過程對于理解材料的性能和優(yōu)化加工工藝至關(guān)重要。再結(jié)晶...
透射電子顯微鏡TEM在LED芯片研究中可以提供有關(guān)LED芯片結(jié)構(gòu)、膜層厚度、位錯缺陷等方面的詳細信息。金鑒實驗室具備先進的TEM設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團隊,能...
編輯推薦廠商產(chǎn)品技術(shù)軟件/工具OS/語言教程專題
電機控制 | DSP | 氮化鎵 | 功率放大器 | ChatGPT | 自動駕駛 | TI | 瑞薩電子 |
BLDC | PLC | 碳化硅 | 二極管 | OpenAI | 元宇宙 | 安森美 | ADI |
無刷電機 | FOC | IGBT | 逆變器 | 文心一言 | 5G | 英飛凌 | 羅姆 |
直流電機 | PID | MOSFET | 傳感器 | 人工智能 | 物聯(lián)網(wǎng) | NXP | 賽靈思 |
步進電機 | SPWM | 充電樁 | IPM | 機器視覺 | 無人機 | 三菱電機 | ST |
伺服電機 | SVPWM | 光伏發(fā)電 | UPS | AR | 智能電網(wǎng) | 國民技術(shù) | Microchip |
Arduino | BeagleBone | 樹莓派 | STM32 | MSP430 | EFM32 | ARM mbed | EDA |
示波器 | LPC | imx8 | PSoC | Altium Designer | Allegro | Mentor | Pads |
OrCAD | Cadence | AutoCAD | 華秋DFM | Keil | MATLAB | MPLAB | Quartus |
C++ | Java | Python | JavaScript | node.js | RISC-V | verilog | Tensorflow |
Android | iOS | linux | RTOS | FreeRTOS | LiteOS | RT-THread | uCOS |
DuerOS | Brillo | Windows11 | HarmonyOS |