介紹一種面向單微聚體的自組裝方法來(lái)制備1D介孔納米結(jié)構(gòu)

一維（1D）納米材料因其優(yōu)異的物理化學(xué)性質(zhì)而引起了廣泛的研究興趣，但1D多孔納米材料的直接自組裝和對(duì)其孔隙率的控制仍然面臨著巨大的挑戰(zhàn)。

2023-12-20 標(biāo)簽：傳感器納米材料SEM 1583 0

AMD MPSoC器件中啟用SEM IP的策略與方法

IP 在初始化階段就卡住了。從 Uart 口的 log 看 ‘ICAP’ 后續(xù)無(wú)字符輸出，這是典型的 IP 無(wú)法通過(guò) ICAP 訪問(wèn)控制端的狀態(tài)。

2024-03-01 標(biāo)簽：amd寄存器SEM 1553 0

電池"無(wú)"隔膜？SEI新"膜"法!

枝晶是阻礙鋅基水系電池發(fā)展的一個(gè)亟待解決的問(wèn)題。電沉積過(guò)程主要包含離子遷移、電還原和電結(jié)晶三個(gè)步驟。

2024-03-11 標(biāo)簽：SEM電解質(zhì)電解液 1539 0

長(zhǎng)壽命準(zhǔn)固態(tài)鋁離子電池成果簡(jiǎn)介

可充電鋁離子電池(AIBs)因其原料資源豐富、安全性高而被認(rèn)為是下一代最有前途的大規(guī)模儲(chǔ)能系統(tǒng)之一。

2023-10-07 標(biāo)簽：碳納米管SEM電解質(zhì) 1493 0

鋰-固態(tài)電解質(zhì)界面如何與堆疊壓力演變相關(guān)

由于使用鋰（Li）金屬作為負(fù)極的潛力，固態(tài)電池（SSB）吸引了越來(lái)越多研究者的興趣。各種高性能固態(tài)電解質(zhì)(SSE)，包括聚合物、硫化物和氧化物的發(fā)現(xiàn)加速...

2023-04-13 標(biāo)簽：SEM力傳感器固態(tài)電池 1478 0

基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法

本文主要設(shè)計(jì)了用于封裝可靠性測(cè)試的菊花鏈結(jié)構(gòu)，研究了基于扇出型封裝結(jié)構(gòu)的芯片失效位置定位方法，針對(duì)芯片偏移、ＲDL 分層兩個(gè)主要失效問(wèn)題進(jìn)行了相應(yīng)的工藝...

2023-10-07 標(biāo)簽：芯片emcSEM 1476 0

sem掃描電鏡是測(cè)什么的？哪些學(xué)科領(lǐng)域會(huì)經(jīng)常使用到掃描電鏡？

SEM掃描電鏡即掃描電子顯微鏡，主要用于以下方面的檢測(cè)：1、材料微觀形貌觀察-材料表面結(jié)構(gòu)：可以清晰地觀察到材料表面的微觀結(jié)構(gòu)，如金屬材料的表面紋理、陶...

2025-03-24 標(biāo)簽：SEM電子顯微鏡掃描電鏡 1427 0

什么是PCB的CAF效應(yīng)？

導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）現(xiàn)象及其影響在高科技電子產(chǎn)品制造中，尤其是在對(duì)環(huán)境適應(yīng)性要求極高的汽車電子和軍工領(lǐng)域，產(chǎn)品的耐高溫和高濕性能顯得尤為重要。隨著電子產(chǎn)...

2024-12-14 標(biāo)簽：pcbSEMCAF 1425 0

背散射電子衍射（EBSD）的原理與應(yīng)用領(lǐng)域

No.1EBSD從原理到應(yīng)用電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域中扮演著重要角色，特別是在掃描電子顯微鏡（SEM）中，它為研究者提供了一種獲取樣...

2024-11-05 標(biāo)簽：設(shè)備SEM顯微鏡 1423 0

一文帶你讀懂EBSD

電子背散射衍射（ElectronBackscatterDiffraction，簡(jiǎn)稱EBSD）技術(shù)是一種基于掃描電子顯微鏡（SEM）的顯微分析技術(shù)，它能夠...

2025-01-14 標(biāo)簽：SEM顯微鏡電子束 1413 0

通過(guò)缺陷驅(qū)動(dòng)的錫成核實(shí)現(xiàn)廢石墨的靶向再生和升級(jí)循環(huán)！

由于廢舊電池的廣泛應(yīng)用、豐富的原料供應(yīng)和可持續(xù)發(fā)展，廢舊電池的回收利用變得越來(lái)越重要。

2023-10-07 標(biāo)簽：鋰離子電池SEMXRD 1408 0

什么是掃描電鏡（SEM）？

掃描電子顯微鏡（SEM）掃描電子顯微鏡（SEM）是現(xiàn)代科學(xué)探索微觀世界的一把關(guān)鍵鑰匙。它通過(guò)高分辨率的電子成像技術(shù)，使我們能夠洞察物質(zhì)的微觀構(gòu)造，從而在...

2024-11-20 標(biāo)簽：SEM顯微鏡掃描電鏡 1392 0

一種針對(duì)導(dǎo)電紗線的寄生電容進(jìn)行建模和測(cè)量的方法

近日，南方科技大學(xué)電子與電氣工程系葉濤教授課題組在Nature Communications發(fā)表論文，標(biāo)題為《Parasitic capacitance...

2023-10-07 標(biāo)簽：萬(wàn)用表電感器網(wǎng)絡(luò)分析儀 1386 0

電子背散射衍射（EBSD）：揭示材料晶體學(xué)信息的窗口

什么是電子背散射衍射（EBSD）？電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)在材料科學(xué)中扮演著至關(guān)重要的角色，尤其是在掃描電子顯微鏡（SEM）中，它為研究者提供了一...

2024-11-18 標(biāo)簽：材料SEM晶體學(xué) 1380 0

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FESEM）與常規(guī)掃描電鏡（SEM）：技術(shù)對(duì)比及優(yōu)勢(shì)分析

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡與SEM的比較及優(yōu)勢(shì)在微觀世界的研究中，掃描電鏡（SEM）一直是科學(xué)家們探索材料表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的重要工具。隨著技術(shù)的進(jìn)步，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（...

2024-11-21 標(biāo)簽：測(cè)試SEM掃描電鏡 1369 0

大規(guī)模紅外焦平面陣列探測(cè)器的效像元率指標(biāo)

隨著大規(guī)模紅外焦平面陣列探測(cè)器應(yīng)用的日益廣泛，用戶對(duì)其有效像元率指標(biāo)提出了越來(lái)越高的要求。

2023-08-14 標(biāo)簽：探測(cè)器芯片制造SEM 1365 0

掃描電子顯微鏡（SEM）類型和原理

掃描電子顯微鏡（SEM）原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后，形成極細(xì)的電子束在樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出二次電子、背...

2025-03-04 標(biāo)簽：SEM顯微鏡電子顯微鏡 1336 0

用于高能量密度全固態(tài)電池的無(wú)裂紋單晶LiNiO2

具有高理論容量的高鎳LiNi1-x-yMnxCoyO2 (NMC)層狀氧化物正極已經(jīng)在固態(tài)電池中成功地實(shí)現(xiàn)了各種ISEs。

2024-04-23 標(biāo)簽：鋰離子電池SEM充電電壓 1274 0

聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）技術(shù)原理、樣品制備要點(diǎn)及常見問(wèn)題解答

納米級(jí)材料分析的革命性技術(shù)在現(xiàn)代科學(xué)研究和工程技術(shù)中，對(duì)材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的深入理解是至關(guān)重要的。聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）技術(shù)應(yīng)運(yùn)而...

2024-11-23 標(biāo)簽：SEMfib電鏡 1273 0