資料介紹
機(jī)內(nèi)測(cè)試(BIT)是一種能顯著提高系統(tǒng)測(cè)試性和診斷能力的重要技術(shù),已大量應(yīng)用于當(dāng)代航空系統(tǒng)和武器裝備中。但虛警問題是困擾BIT應(yīng)用的重大難題,并嚴(yán)重影響著武器裝備的戰(zhàn)備完好性和全壽命周期費(fèi)用。因此,為從根本上解決BIT的虛警問題,智能BIT技術(shù)就成為測(cè)試領(lǐng)域21世紀(jì)的重點(diǎn)研究項(xiàng)目之一。首先簡(jiǎn)要介紹了BIT虛警的兩個(gè)主要產(chǎn)生原因,然后重點(diǎn)概述了智能BIT的發(fā)展?fàn)顩r,并分析了當(dāng)前研究方法中存在的不足,最后在研究BIT不確定性的基礎(chǔ)上提出了基于粗糙集的智能BIT故障診斷新技術(shù),并指出了該技術(shù)中需要研究的若干關(guān)鍵問題。
內(nèi)測(cè)試(Built-in Test,簡(jiǎn)稱BIT)技術(shù)是系統(tǒng)、設(shè)備內(nèi)部提供的檢測(cè)、隔離故障的自動(dòng)測(cè)試能力,是復(fù)雜系統(tǒng)或設(shè)備整體設(shè)計(jì)、分系統(tǒng)設(shè)計(jì)、狀態(tài)監(jiān)測(cè)、故障診斷和維修決策等方面的關(guān)鍵共性技術(shù)[1,2]。國(guó)外自從20世紀(jì)從70年代開展BIT技術(shù)研究以來,不僅在理論上做了大量積累,而且結(jié)合型號(hào)任務(wù)在應(yīng)用上取得了一系列研究成果。
內(nèi)測(cè)試(Built-in Test,簡(jiǎn)稱BIT)技術(shù)是系統(tǒng)、設(shè)備內(nèi)部提供的檢測(cè)、隔離故障的自動(dòng)測(cè)試能力,是復(fù)雜系統(tǒng)或設(shè)備整體設(shè)計(jì)、分系統(tǒng)設(shè)計(jì)、狀態(tài)監(jiān)測(cè)、故障診斷和維修決策等方面的關(guān)鍵共性技術(shù)[1,2]。國(guó)外自從20世紀(jì)從70年代開展BIT技術(shù)研究以來,不僅在理論上做了大量積累,而且結(jié)合型號(hào)任務(wù)在應(yīng)用上取得了一系列研究成果。
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