資料介紹
由于ITO膜具有一定的透光性,而硅基板具有較強的反射率,會對依賴反射光信號進(jìn)行圖像重建的光學(xué)輪廓儀造成信號干擾導(dǎo)致ITO膜厚圖像重建失真,因此考慮采用接觸式輪廓儀對ITO膜厚進(jìn)行測量,由于其厚度范圍從十幾納米到幾百納米,考慮到測量的同時不損傷樣件本身,因而采用具有超微力可調(diào)和亞納米級分辨率的臺階儀最為合適。
臺階儀是一種常用的膜厚測量儀器,它是利用光學(xué)干涉原理,通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點。它可以測量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。

CP系列臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀,其采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導(dǎo)電薄膜厚度的測量上具有很強的優(yōu)勢。



針對測量ITO導(dǎo)電薄膜的應(yīng)用場景,CP200臺階儀提供如下便捷功能:
1)結(jié)合了360°旋轉(zhuǎn)臺的全電動載物臺,能夠快速定位到測量標(biāo)志位;
2)對于批量樣件,提供自定義多區(qū)域測量功能,實現(xiàn)一鍵多點位測量;
3)提供SPC統(tǒng)計分析功能,直觀分析測量數(shù)值變化趨勢;
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