Hioki IM3570阻抗分析儀
IM3570 是 Hioki 的寬帶 4Hz-5Mz 用于高速測(cè)試和掃頻阻抗分析儀。
IM3570 Hioki 阻抗分析儀

Hioki IM3570 阻抗分析儀，寬帶 4Hz-5Mz，用于高速測(cè)試和頻率掃描

特征：

用于高速測(cè)試和掃頻的單設(shè)備解決方案

Hioki IM3570 阻抗分析儀、LCR 表和阻抗分析儀能夠?qū)?4 Hz 至 5 MHz 的測(cè)量頻率和 5 mV 至 5 V 的測(cè)試信號(hào)電平組合到一臺(tái)測(cè)量?jī)x器中。高級(jí)功能包括交流信號(hào)的 LCR 測(cè)量、直流電 (DCR) 的電阻測(cè)量以及連續(xù)改變測(cè)量頻率和測(cè)量電平的掃描測(cè)量。
IM3570有助于在不同的測(cè)量條件和測(cè)量模式下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量，因此迄今為止需要多臺(tái)測(cè)量?jī)x器的檢測(cè)線只需一臺(tái)設(shè)備即可。
測(cè)量時(shí)間縮短

與以前的型號(hào)相比，測(cè)量時(shí)間縮短了，在 LCR 模式下實(shí)現(xiàn)了 1.5ms (1 kHz) 和 0.5ms (100kHz) 的最大速度。（當(dāng)顯示器關(guān)閉時(shí)，當(dāng)顯示器打開時(shí)，時(shí)間增加 0.3 ms）。與以前的 Hioki 產(chǎn)品（基本速度為 5ms 的 3522-50 和 3532-50）相比，這是一個(gè)顯著的速度提升。更快的速度有助于增加測(cè)試數(shù)量。此外，需要測(cè)量多個(gè)點(diǎn)的掃描測(cè)量實(shí)現(xiàn)了每點(diǎn)0.3ms的快速速度。
低阻抗測(cè)量精度提高

與以前的 HIOKI 產(chǎn)品相比，低阻抗測(cè)量時(shí)的重復(fù)精度提高了一位數(shù)。例如，當(dāng)條件為 1 mΩ (1V, 100 kHz) 且測(cè)量速度為 MED 時(shí)，可以以 0.12% 的重復(fù)精度（變化）進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量，從而使本儀器適用于 100 kHz ESR 測(cè)量。
電感器（線圈和變壓器）的 DCR 和 LQ 測(cè)量

儀器可連續(xù)測(cè)量LQ（1 kHz，1mA恒流）和DCR，并在同一屏幕上顯示數(shù)值。電流相關(guān)元件，例如包含電感值根據(jù)施加電流而變化的磁芯的線圈，可以用恒定電流 (CC) 測(cè)量。與以往產(chǎn)品相比，低阻抗測(cè)量時(shí)的重復(fù)精度提高了個(gè)位數(shù)，因此可期待穩(wěn)定的 DCR 測(cè)量。
與以前的 Hioki 產(chǎn)品相比，通過(guò)提高 0 的測(cè)量精度，對(duì)于 0 處于 90° 附近的高 Q 和 Rs 值，可以進(jìn)行比以前更好的一位數(shù)的絕對(duì)精度和重復(fù)精度的測(cè)量。
產(chǎn)品特點(diǎn)：

LCR、DCR、掃描和連續(xù)測(cè)量，在一個(gè)單元中進(jìn)行高速測(cè)試
LCR 模式下的最大測(cè)試速度為 1.5ms (1 kHz) 和 0.5ms (100kHz)
Z參數(shù)基本精度高：±0.08%
非常適合測(cè)試壓電元件的諧振特性、功能性聚合物電容器的 CD 和低 ESR 測(cè)量、電感器（線圈和變壓器）的 DCR 和 LQ 測(cè)量
在分析儀模式下執(zhí)行頻率掃描、電平掃描和時(shí)間間隔測(cè)量
支持測(cè)量條件的高速切換

審核編輯 黃宇