一、CMP工藝與拋光材料的核心價值化學機械拋光(ChemicalMechanicalPlanarization,CMP)是半導體制造中實現(xiàn)晶圓表面全局平坦化的關鍵工藝,通過“
發(fā)表于 07-05 06:22
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化學機械拋光(Chemical Mechanical Polishing, 簡稱 CMP)技術是一種依靠化學和機械的協(xié)同作用實現(xiàn)工件表面材料去除的超精密加工技術。下圖是一個典型的 CMP 系統(tǒng)示意圖:
發(fā)表于 07-03 15:12
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(CMP)DSTlslurry斷供:物管通知受臺灣出口管制限制,F(xiàn)ab1DSTSlury(料號:M2701505,AGC-TW)暫停供貨,存貨僅剩5個月用量(267桶)。DSTlslurry?是一種用于半導體制造過程中的拋光液,主要用于化學機械拋光(CMP)
發(fā)表于 07-02 06:38
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銅互連工藝是一種在集成電路制造中用于連接不同層電路的金屬互連技術,其核心在于通過“大馬士革”(Damascene)工藝實現(xiàn)銅的嵌入式填充。該工藝的基本原理是:在絕緣層上先蝕刻出溝槽或通孔,然后在溝槽或通孔中沉積銅,并通過
發(fā)表于 06-16 16:02
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化學機械拋光液是化學機械拋光(CMP)工藝中關鍵的功能性耗材,其本質是一個多組分的液體復合體系,在拋光過程中同時起到化學反應與
發(fā)表于 05-14 17:05
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EBSD樣品制備EBSD樣品的制備過程對實驗結果的準確性和可靠性有著極為重要的影響。目前,常用的EBSD樣品制備方法包括機械拋光、電解拋光和聚焦離子束(FIB)等,但這些方法各有其局限性。1.
發(fā)表于 03-03 15:48
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展開分析。 原理: 研磨通過機械去除與化學協(xié)同作用實現(xiàn)材料精密去除。傳統(tǒng)研磨依賴金剛石等超硬磨料的機械切削,而新型工藝結合化學腐蝕(如
發(fā)表于 02-14 11:06
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但隨著技術迭代,晶體管尺寸持續(xù)縮減,電阻電容(RC)延遲已成為制約集成電路性能的關鍵因素。在90納米及以下工藝節(jié)點,銅開始作為金屬互聯(lián)材料取代鋁,同時采用低介電常數(shù)材料作為介質層,這一轉變主要依賴于銅大馬士革工藝(包括單鑲嵌與雙鑲嵌)與
發(fā)表于 02-07 09:39
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。這一精密而復雜的流程主要包括以下幾個工藝過程:晶圓制造工藝、熱工藝、光刻工藝、刻蝕工藝、離子注入工藝
發(fā)表于 01-08 11:48
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具有高增益和高輸出功率的硅基混合III-V半導體光放大器在許多應用中非常重要,如光收發(fā)器、集成微波光子學和光子波束成形。
發(fā)表于 12-30 16:15
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在半導體制造這一高度精細且復雜的領域里,CMP(化學機械拋光)技術就像是一顆默默閃耀在后臺的璀璨寶石,盡管不為普通大眾所知曉,但在芯片制造的整個流程中,它卻是不可或缺的重要一環(huán)。今天,讓我們共同深入
發(fā)表于 12-20 09:50
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,光刻工藝,蝕刻工藝,離子注入工藝,化學機械拋光,清洗工藝,晶圓檢驗工藝。
后道工序包括組裝
發(fā)表于 12-16 23:35
引起的變形問題。
化學機械拋光(CMP)技術:
CMP技術結合了化學腐蝕和機械研磨的雙重作用,可以在晶圓表面形成一層化學反應層,并通過機械研
發(fā)表于 12-10 09:55
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機械拋光是一種通過物理或化學作用改善材料表面粗糙度和光澤度的過程。這個過程通常用于金屬、塑料、玻璃和其他材料的表面處理。機械拋光設備和輔助品的選擇取決于材料類型、拋光目的和預期的表面質
發(fā)表于 09-11 15:43
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機械拋光和電解拋光是兩種常見的金屬表面處理技術,它們在工業(yè)制造、精密工程、醫(yī)療器械、汽車制造、航空航天等領域有著廣泛的應用。這兩種技術各有特點和優(yōu)勢,適用于不同的材料和場合。下面將介紹這兩種拋光技術
發(fā)表于 09-11 15:40
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