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      電子發(fā)燒友網(wǎng)>MEMS/傳感技術(shù)>NAC-206具有自測試的電路圖

      NAC-206具有自測試的電路圖

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      2017-02-07 16:14:5612

      運(yùn)算放大器測試基礎(chǔ)第3部分：適用于運(yùn)算放大器測試的電路配置

      在本系列的第 1 部分中，我們?yōu)榇蠹医榻B了三種運(yùn)算放大器測試電路：自測試電路、雙運(yùn)算放大器環(huán)路以及三運(yùn)算放大器環(huán)路。這些電路有助于測試失調(diào)電壓 (VOS)、共模抑制比 (CMRR)、電源抑制
      2017-04-08 06:06:344796

      TMS570LS系列微控制器配置與可編程內(nèi)置自測試的概述

      TMS570LS系列微控制器與可編程內(nèi)置自測試（pbist）實(shí)現(xiàn)建筑。的pbist架構(gòu)提供了一種存儲器BIST引擎不同的覆蓋水平在許多嵌入式內(nèi)存實(shí)例中。TMS570LS系列微控制器可分為兩類：130
      2018-04-16 16:03:3812

      新的平衡電流模式模擬電路自測試方法的片上解決方案詳細(xì)說明

      仿真結(jié)果：為了評價(jià)BIC監(jiān)測儀用于新型并行模擬自測試的可行性，進(jìn)行了故障仿真。全差分電流傳送器被用作被測器件。在監(jiān)視通過/失敗輸出（圖2）的同時(shí)，將每個(gè)典型的MOS晶體管的終端故障（短路和開路）分別
      2019-11-26 16:36:300

      關(guān)于芯片設(shè)計(jì)的前端設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)

      LBIST (Logic build-in-self test), 邏輯內(nèi)建自測試。和MBIST同理，在關(guān)鍵邏輯上加上自測試電路，看看邏輯cell有沒有工作正常。BIST總歸會在芯片里加入自測試邏輯，都是成本。
      2022-08-29 15:33:302169

      UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南

      UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南
      2022-11-22 08:21:450

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